双束显微镜系统
发布时间：2018-03-24 作者： 来源： 浏览次数：
联系人 |
沈茹娟, 胡旺 |
邮箱 |
1047340870@qq.com |
电话 |
15573104530；13787146864 |
生产厂家 |
FEI Czech Republic s.r.o. |
型号 |
Helios Nanolab G3 UC |
购买日期 |
2015.07.16 |
主要规格及技术指标
电子束分辨率：0.6nm@2kV；0.7nm@1kV；1.0nm@500V。 离子束分辨率：4.0nm@30kV。 STEM分辨率：0.6nm@30kV。
主要功能及特色
样品微观形貌观测、离子束刻蚀、离子束沉积、电子束沉积、高质量定点TEM样品制备、样品微区成分分析、及晶粒取向分布的测定。