场发射扫描电子显微镜
发布时间：2018-03-24 作者： 来源： 浏览次数：
联系人 |
胡旺 |
邮箱 |
864421291@qq.com |
电话 |
13787146864 |
生产厂家 |
FEI Electron Optics B.V |
型号 |
Nova NanoSEM230 |
购买日期 |
2008.07.11 |
主要规格及技术指标
二次电子成像：高真空1.0nm (15kV)；1.6nm (1kV)；低真空 1.5nm （10kV)；1.8nm (3kV) ； 背散射电子成像：＜2.5nm (30kV）
主要功能及特色
观察材料表面微观形貌，分析样品微区成分。